Scanning Electron Microscopy (SEM)
La Tescan è in grado di proporre una gamma completa di microscopi elettronici a scansione ad altissime performance, sia con sorgente termoionica che con sorgente a emissione di campo.
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VEGA3
Microscopi SEM Termoionici (W, LaB6)
Ampia gamma di microscopi elettronici a scansione termoionici (W e LaB6) in grado di operare in condizioni di alto e basso vuoto.
GAIA3
Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Gallio ed Elettronica UHR
Sistema a doppio fascio FIB-SEM per applicazioni di nanotecnologia e nanofabbricazioni con elevatissime prestazioni di Imaging.
FERA3
Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Plasma di Xenon ed Elettronica FE-SEM
Rivoluzionario sistema FIB-SEM con colonna ionica al Plasma di Xenon.
XEIA3
Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Plasma di Xenon ed Elettronica UHR
Rivoluzionario sistema FIB-SEM con colonna ionica al Plasma di Xenon e colonna elettronica UHR TriglavTM.