Scanning Electron Microscopy (SEM)

La Tescan è in grado di proporre una gamma completa di microscopi elettronici a scansione ad altissime performance, sia con sorgente termoionica che con sorgente a emissione di campo.

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VEGA3

Microscopi SEM Termoionici (W, LaB6)

Ampia gamma di microscopi elettronici a scansione termoionici (W e LaB6) in grado di operare in condizioni di alto e basso vuoto.

MIRA3

Microscopi FE-SEM

Microscopi SEM ad Emissione di Campo per applicazioni di Imaging di alta risoluzione ed elevata versatiltà analitica.

MAIA3

Microscopi FE-SEM classe UHR

Microscopi SEM ad Emissione di Campo di classe UHR con caratteristiche di Imaging e analitiche top di gamma.

LYRA3

Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Gallio ed Elettronica FE-SEM

Sistema a doppio fascio FIB-SEM per applicazioni di nanotecnologia e nanofabbricazioni.

GAIA3

Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Gallio ed Elettronica UHR

Sistema a doppio fascio FIB-SEM per applicazioni di nanotecnologia e nanofabbricazioni con elevatissime prestazioni di Imaging.

FERA3

Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Plasma di Xenon ed Elettronica FE-SEM

Rivoluzionario sistema FIB-SEM con colonna ionica al Plasma di Xenon.

XEIA3

Sistemi FIB-SEM con colonna Ionica al Plasma di Xenon ed Elettronica UHR

Rivoluzionario sistema FIB-SEM con colonna ionica al Plasma di Xenon e colonna elettronica UHR TriglavTM.